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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
대기비노출 화학적 결합상태 분석기
Air protection XPS
| GBTP No. | GBREMS-05-0284 |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2023-01-284985 |
| I-tube등록번호 | 2204-B-0306 |
| 보유기관 | 포항산업과학연구원 |
| 연락처 | 010-3823-8702 |
| 대표번호 | 054-279-6333 |
장비정보
| 모델명 | NEXSA G2 | 제작사 | Thermo Fisher Scientific |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2022-04-22 | 취득금액 | 939,824,390원 |
| 표준분류 | 화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선광전자분광기 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 포항시 남구 청암로 67 포항산업과학연구원 1연구동 F1층 54호
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| 장비설명 | X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique based on the photoelectric effect that can identify the elements that exist within a material (elemental composition) or are covering its surface, as well as their chemical state, and the overall electronic structure and density of the electronic states in the material. XPS is a powerful measurement technique because it not only shows what elements are present, but also what other elements they are bonded to. The technique can be used in line profiling of the elemental composition across the surface, or in depth profiling when paired with ion-beam etching. It is often applied to study chemical processes in the materials in their as-received state or after cleavage, scraping, exposure to heat, reactive gasses or solutions, ultraviolet light, or during ion implantation. | ||
| 구성 및 기능 |
- Air protection with glove box or special vessel
- Hemishperical analyzer - Constant Analyzer Energy(CAE) - 128 channel position sensitive detector - 5 ~ 1500eV energy range - 1 ~ 400eV continuously selectable pass energy |
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| 사용/활용예 |
- 대기비개방 상태로 시편 준비 및 장치 장입을 통한 정성 분석
- 이차전지 양음극재 표면에 형성된 SEI (고체전해질피막) 분석을 통한 결합상태 화합물 해석 - Mono-atomic 및 GCIB 방식의 Ar-ion을 이용한 깊이방향 정성 분석 |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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