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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)

정밀 이온밀링 시스템

Precision Ion Polishing System

GBTP No. -
NFEC등록번호 NFEC-2022-05-279148
I-tube등록번호 -
보유기관 포항공과대학교
연락처 054-279-5839
대표번호 -

장비정보

모델명 PIPS II Pro 695 제작사 Gatan
취득일자 2022-01-21 취득금액 93,940,000원
표준분류 화합물전처리/분석장비 > 반응/혼합/분쇄장비 > 분쇄/파쇄기 활용용도 시험
장비위치
경상북도 포항시 남구 청암로 77 (지곡동) 산27 포항공과대학교 제1공학관 F1층 111호
장비설명 50~80pm 분해능 수준의 수차보정 주사투과전자현미경 (Scanning Transmission Electron Microscopy : STEM)을 이용해 소재 내부에서 발생하는 재료의 구조 전이 및 결함 생성의 메커니즘을 수 pm 수준으로 분석하기 위해서는 50nm 이하의 두께를 갖는 TEM 분석용 시료 준비가 필수적이다. 이온 밀링기를 이용해 샘플을 제작하는 경우 beam damage에 beam damage를 최소화할 수 있으며 high quality 샘플 제작이 가능하다.
구성 및 기능 1) Ion guns : two penning ion guns with low energy focusing electrodes
2) Milling angle (°) : +10 to -10, each gun independently adjustable
3) Ion beam energy (kV) : 0.1~8.0
4) Beam alignment : Precision beam alignment using a fluorescent screen
5) Rotation (rpm) : 1~6
6) Beam modulation : Single or double with adjustable range
7) X, Y translation (mm) : ±0.5
8) Viewing : Option 1 – Binocular microscope / Option 2 – Digital zoom microscope
9) Dry pumping system : Two-stage diaphragm pump backing, an turbo drag pump
10) Pressure (torr) : Base - 5*10^(-6) / Operating - 8×10^(-5)
11) Vacuum gauge : Cold cathode type for the main chamber, solid-state for backing pump
12) touchscreen : Simple operation with complete control of all parameters and recipe operation
사용/활용예
이용안내
유의사항

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