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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
투과전자현미경
Scanning Transmission Electron Microscope(STEM)
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-1999-04-032414 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 포항공과대학교 |
| 연락처 | 054-279-5550 |
| 대표번호 | - |
장비정보
| 모델명 | Philips CM30 | 제작사 | Philips |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 1991-06-04 | 취득금액 | 302,772,617원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 포항시 남구 청암로 77 (지곡동) 산27 포항공과대학교 제1공학관 B1
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| 장비설명 |
평광한 전자선을 사용하여시료를 투과시킨 전자선을 전자렌즈로 확대하여 관찰하는 전자 현미경. 직접배율의 범위가 통상은 100배에서 100만배가량의 상을 형광판 상에 투영하여 관찰해 초미입자의 전자현미경용 필름에 기록한다. 전자선이 시료를 투과할 때에 생기는 산란대조와 위상대조에 따라 상의 대조를 얻어낼 수 있다.
LaB6 필라멘트를 가열시켜 방출되는 열전자를 이용하여 재료의 분석 |
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| 구성 및 기능 |
1. 가속전압 : 300keV 2. Double Tilting Holder 3. EDS System 4. Scanning mode Nano probe mode 5. High Resolution TV Camera
원리 The very short wavelength of accelerated electrons The resolution to the order of 0.2nm The irradiation of a very thin sample by E-beam |
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| 사용/활용예 |
High-resolution image
Bright- and dark-field image Selected area electron diffraction TEM microprobe and nanoprobe analysis Small-probe convergent beam Electron Beam Diffraction EDS Analysis |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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