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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)

저온 프로브 스테이션

Low Temperature Probe Station with Glove Box

GBTP No. -
NFEC등록번호 NFEC-2008-08-062621
I-tube등록번호 -
보유기관 포항공과대학교
연락처 054-279-0216
대표번호 -

장비정보

모델명 WPB-4 제작사 우신크라이오백
취득일자 2008-07-28 취득금액 57,178,000원
표준분류 기계가공/시험장비 > > 활용용도 시험
장비위치
경상북도 포항시 남구 청암로 77 (지곡동) 산27 포항공과대학교 나노기술집적센터 F3 311
장비설명 373K의 고온에서 4.5K 저온까지 Organic field-effect transistors (OFETs) 와 Organic light emitting diodes(OLEDs)의 전기적 특성을 측정한다.
구성 및 기능 Liquid He을 사용하여 Sample stage의 온도를 낮추어 진공 중에서 XYZ Stage를 이용 Probe tip을 사용하여 Sample을 contact하여 전기적 특성을 측정함
사용/활용예 OFTFs 과 OLEDs 소자들이 고온-상온-저온으로 변화함에 따라 유기반도체 및 전극에서 전하 이동 특성을 이해하여 신물질 개발 및 기존 물질의 성능을 획기적으로 증가시킬 수 있는 기술을 개발 할 수 있게 한다. Maker / Model : MS-Tech M.BRAUN INTERTGAS-SYSTEM GMBH KEITHLEY / Probe station I-V/C-V meter glove box
이용안내
유의사항

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