정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
Low Temperature Probe Station with Glove Box
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2008-08-062621 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 포항공과대학교 |
| 연락처 | 054-279-0216 |
| 대표번호 | - |
| 모델명 | WPB-4 | 제작사 | 우신크라이오백 |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2008-07-28 | 취득금액 | 57,178,000원 |
| 표준분류 | 기계가공/시험장비 > > | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 | |||
| 장비설명 | 373K의 고온에서 4.5K 저온까지 Organic field-effect transistors (OFETs) 와 Organic light emitting diodes(OLEDs)의 전기적 특성을 측정한다. | ||
| 구성 및 기능 | Liquid He을 사용하여 Sample stage의 온도를 낮추어 진공 중에서 XYZ Stage를 이용 Probe tip을 사용하여 Sample을 contact하여 전기적 특성을 측정함 | ||
| 사용/활용예 | OFTFs 과 OLEDs 소자들이 고온-상온-저온으로 변화함에 따라 유기반도체 및 전극에서 전하 이동 특성을 이해하여 신물질 개발 및 기존 물질의 성능을 획기적으로 증가시킬 수 있는 기술을 개발 할 수 있게 한다. Maker / Model : MS-Tech M.BRAUN INTERTGAS-SYSTEM GMBH KEITHLEY / Probe station I-V/C-V meter glove box | ||
| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
|---|
잠시만 기다려 주세요.