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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
초고진공 극저온 주사형탐침현미경
UHV-LT STM (Ultra High Vacuum - Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2009-07-072169 |
| I-tube등록번호 | 0807-A-0090 |
| 보유기관 | 포항공과대학교 |
| 연락처 | 054-279-0287 |
장비정보
| 모델명 | USM-1200 | 제작사 | Unisoku |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2008-07-17 | 취득금액 | 291,390,439원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 포항시 남구 청암로 77 (지곡동) 산27 포항공과대학교 나노기술집적센터 F1 101
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| 장비설명 |
특징
극저온(10K)과 초고진공(～1012 Torr)의 조건에서 탐침을 이용 표면이미지 및 물성 측정 <원리> STM으로 약기. 주사형 탐침현미경의 일종으로 터널전류를 이용하여 시료 표면의 형상을 분석하는 현미경. 도전성 시료 사이에 흐르는 터널전류가 일정하도록 주사한 탐침의상하방향의 움직임에서 시료 표면의 원자 수준의 입체구조를알아낼 수 있다. 대기중에서 관찰할 수 있는 것이 특징이지만초고진공환경 하에서 좀더 청정한 표면을 관찰할 수 있다. 탐침과 시료 사이의 원자간 힘을 이용한 원자간력현미경에서는비도전성 시료도 분석할 수 있다. |
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| 구성 및 기능 |
구성및성능
극저온(10K) 초고진공(～1012 Torr) 나노스케일 측정(0.1 nm) Ion Pump Chamber 극저온(10K)과 초고진공(～1012 Torr)의 조건에서 탐침을 이용 표면이미지 및 물성 측정 |
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| 사용/활용예 |
활용분야
각종 샘플의 나노스케일 영역에서의 표면이미지 측정 터널전류 측정 전기적물성 측정 탐침과 시료 사이의 원자간 힘을 이용한 원자간력현미경에서는비도전성 시료도 분석할 수 있다. |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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