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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
전계방출형 주사전자 현미경
Field Emission-Scanning Electron Microscope
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2014-11-193144 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 안동대학교 |
| 연락처 | 054-820-7347 |
장비정보
| 모델명 | JSM-6700F | 제작사 | Jeol |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2003-12-22 | 취득금액 | 320,330,066원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 안동시 경동로 1375 (송천동) 388번지 안동대학교 F1 113
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| 장비설명 |
전계방출형 전자총에서 가속된 전자가 시료의 표면에 조사될 때 발생되는 2차 전자(secondary electron) 및 X-선으로부터 시료의 미세영상을 확대, 관찰하고 시료의 구성원소를 정성, 정량분석하며 시료의 내부에 침투한 전자가 다시 시료 밖으로 나올 때 생기는 전자량(back scattered electron)의 차이에 의해 조성원소 중 질량이 큰 원소와 작은 원소의 분포(composition)을 알 수 있는 고해상도 전자현미경이다. |
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| 구성 및 기능 |
ㆍ 가속 전압 : 0.2~30㎸ ㆍ 배 율 : 20~600,000배 ㆍ 해상도 : 2.1㎚ at 1㎸ ㆍ 전자총 : Cold Field Emission Gun ㆍ 부착 장비 : EDS Spectrometer(Energy Dispersive X-ray Spectrometer) |
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| 사용/활용예 |
ㆍ 금속, 세라믹, 고분자, 광물시료의 미세구조 관찰 및 구성성분 분석 ㆍ 생물(세포, 식물 조직, 박테리아, 바이러스 등)의 미세조직 관찰 및 촬영 ㆍ 구성원소의 분포 확인(X-ray mapping) |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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