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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
반도체 집적회로 테스팅 시스템
Integrated Circuit Testing System
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2014-11-192850 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 포항공과대학교 |
| 연락처 | 054-279-8891 |
장비정보
| 모델명 | NI PXIe-1075/NI PXIe-8133/NI 8260/NI PXIe-7965R | 제작사 | National Instruments |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2014-09-25 | 취득금액 | 78,382,480원 |
| 표준분류 | 데이터처리장비 > 하드웨어 > 입/출력장치 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 포항시 남구 청암로 77(지곡동) 청암로 77 포항공과대학교 C5융합동 F3 332
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| 장비설명 | -반도체 집적회로 테스팅을 위한 integrated testing system. 제작된 반도체 회로 시제품의 다양한 특성을 정밀 측정하기 위해 프로그래밍이 가능한 integrated testing system이 필요함. 구입하려는 테스팅 시스템은 측정 목표에 따라 시스템 구성 요소를 컴퓨터 프로그램으로 재구성할 수 있다는 장점이 있음. | ||
| 구성 및 기능 |
주요사양
- PXIe Controller - PXIe 8-Slot Chassis - Multifunction DAQ, 2Ms/s single-channel sampling rate - PXIe 2Ch 5GS/s 1.5GHz digitizer - PXIe 16bit 400MS/s Dual-Channel Arbitrary Waveform Generator - PXI LCR meter - PXIe 4-channel precision SMU - PXIe Digital Waveform generator with enhanced PPMU - 512-crosspoint matrix |
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| 사용/활용예 |
- 시험 제작된 다양한 반도체 회로의 정밀 측정을 편리하게 할 수있는 프로그래머블한 테스팅 환경을 구축하기위하여 PXI-e 방식의 integrated testing system을 도입하고자 한다. 테스팅 조건이나 변수등을 컴퓨터 프로그램으로 쉽게 조절할 수 있는 장점으로 인해 기존의 실험 방법보다 연구원의 수고는 훨씬 주는 반면 측정 속도는 매우 높아질 것으로 기대
- 본 시스템을 이용해서 디지털 로직 회로 칩의 성능, 전력소모, 에러 검출 등과 PLL, ADC, DAC, Amp등 여러 아날로그 반도체 회로의 여러 가지 특성을 측정한다. 또한 다양한 array 형태의 소자들을 자동화된 방법으로 측정할 수 있어 창의IT융합공학과와 미래IT융합연구원의 많은 그룹이 사용할 수 있을 것으로 예상 |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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