장비검색/예약
- 홈
- 장비활용
- 장비검색/예약
정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
전자투과현미경
Advanced Transmission Electron Microscope
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2014-12-194993 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 기초과학연구원 |
| 연락처 | 054-279-9931 |
| 대표번호 | - |
장비정보
| 모델명 | Titan G2 60-300 | 제작사 | FEI |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2014-12-19 | 취득금액 | 5,501,021,150원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 포항시 남구 청암로 77 (지곡동) 나노융합기술원 나노융합기술원 R&D동 F1층 TEM
 |
||
| 장비설명 |
- 투과전자현미경은 전자선을 고속으로 가속시킨 후 시편에 입사시켜 서로 상호작용을 한 후, 시편을 통과하여 투과선과 회절선이 나올 때 이들의 특정 부분을 이용하여 명시야상이나 암시야상, 회절 패턴 등의 결과를 얻어 시편을 분석하는 장비.
- 시편에 가해지는 높은 에너지의 전자선으로 인한 손상 때문에 기존에 분석하기 힘들었던 유기 및 유기/무기 하이브리드 소재를 분석하기 위해, 적합한 가속전압을 유동적으로 사용할 수 있고 시편을 극저온에서 얼음결정의 성장으로 인한 방해를 받지 않고 분석할 수 있는 구성의 투과전자현미경으로 새로 개발한 유기 혹은 유기/무기 하이브리드 소재의 내부구조와 화학적 성질을 원자 혹은 분자 수준에서 분석할 수 있는 장비. |
||
| 구성 및 기능 | 1. TEM basic unit 1set 2. Camera system 1set 3. EDS Analyzer system 1set 4. EFTEM EELS Analyzer system 1set 5. Software 3set 6. Workstation and 20'' LCD monitor 2set 7. Accessories 1) Single-tilt Holder 1set 2) Double-tilt Holder with Softloc 1set 3) Low-background Double-tilt Holder 1set 4) High-visibility Low-background Double-tilt Holder 1set 5) Tomography Holder (High Field of View) 1set 6) Plasma cleaner 1set 7) Support PC 1set 8) Environmental enclosure 1set | ||
| 사용/활용예 | |||
| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
|---|