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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
전자현미경(전후방산란회절기)
Electron Back Scatter Diffraction
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2015-02-196335 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 안동대학교 |
| 연락처 | 054-820-7347 |
| 대표번호 | - |
장비정보
| 모델명 | AztecHKL NordlysNano EBSD | 제작사 | Oxford Instruments |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2014-11-17 | 취득금액 | 173,310,710원 |
| 표준분류 | 화합물전처리/분석장비 > > | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 안동시 경동로 1375 (송천동) 388번지 안동대학교 공동실험실습관 F1 111
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| 장비설명 | 표면 거칠기 0.1um 이하로 연마된 시료 표면에 전자빔을 주사하여 표면에서 방출되는 결정질 물질의 Kikuchi pattern을 분석하여 시료의 조성상을 분석하며 Mapping 기능으로 일정 영역에서의 결정면, grain등의 크기와 orientation, pole figure등을 측정한다. | ||
| 구성 및 기능 |
Resolution : Min. 1.0 Megapixel ？Pxel Binning : Selectable on-chip binning mode ？Forescatter Detector : Min. 4 diode ？ Precision orientation measurement : less than 0.1deg
Transmission Kikuchi Diffraction Sample holder EBSD database -ICSD Structural Database - Geological Phase Database - NIST Structural Database |
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| 사용/활용예 |
각종 재료물질의 Kikuchi pattern측정
결정성 물질의 표면의 grain, 결정입계 등 측정 미소영역에 대한 다양한 분석 시료의 조성에 따른 점분석, 선분석, 면분석등 가능 |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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