정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
Ambient Pressure X-ray Photoemission Spectroscopy Beamline
GBTP No. | - |
---|---|
NFEC등록번호 | NFEC-2019-08-257428 |
I-tube등록번호 | - |
보유기관 | 포항가속기연구소 |
연락처 | 054-279-1500 |
대표번호 | - |
모델명 | 개발장비 | 제작사 | (주)벡트론 |
---|---|---|---|
취득일자 | 2018-12-31 | 취득금액 | 1,000,000,000원 |
표준분류 | 광학/전자영상장비 > 방사선발생/측정장비 > 가속기 | 활용용도 | 시험 |
장비위치 | |||
장비설명 |
◦ Undualtor로부터 방출된 빛을 실험장치까지 목표 광세게와 광분해능을 유지하면서 시료의 위치에 도달하게하는 광학장치 및 진공장치로 구성됨.
◦ 빔라인 광원 특성 - 가용 및 에너지 : 100 ~ 2000 eV, 광 분해능 : ~ 10000(N K-edge 에서), 광량 ~ 10 13 photon/sec ◦ 광착장치 : Mirror, Grating. ◦ 광학 쳄버 : 초고진공쳄버 및 초고진공하에서 정밀 제어가 가능한 위치조절장치로 구성됨. ◦ 진공쳄버 : 초고진공을 유지하면서, 광학장치를 통과한 빛이 시료의 위치에 도달하도록 함. ◦ AP-XPS 실험장치 : KBSI에서 구축함. KBSI-PAL MoU에 따라, 협력빔라인으로 운영될 예정임. |
||
구성 및 기능 |
◦ PES는 그 자체로서 고체의 전자구조 뿐만 아니라 고체의 표면과 각종 분자들의 상호작용을 연구하는데 결정적인 기여를 한 매우 중요한 실험 기법임. APXPS 실험기법은 3세대 방사광을 기반으로 시료의 표면 및 계면의 특성을 체계적으로 원래의 위치 및 환경(in-situ & Operando methods)에서 실험이 가능함.
◦ 주요 구성부품 1) M1 mirror & chamber system 2) M2 mirror + Grating & chamber system 3) M3 mittor & chamber system 4) Exit Slit system 5) KB mirror & chamber system 6) Dignostic system 7) 8A Beamline Spec. 참고 8) AP-XPS 실험장치 : KBSI에서 구축함. |
||
사용/활용예 |
◦ 시료의 표면 및 계면의 특성을 체계적으로 원래의 위치 및 환경(in-situ & Operando methods)에서 실험이 가능하며 이는 표면과 계면에서의 새로운 반응 메카니즘에 대한 새로운 통찰력을 제공하여 재료과학, 촉매, 나노 과학, 그리고 에너지 기술 등에 발전의 기초를 제공할 것으로 기대함.
◦ 기체/고체 및 액체/고체 표면 및 계면에서 일어나는 현상들을 분석할 수 있는 최첨단 연구지원 시스템 ◦ 이종 촉매(Heterogeneous catalysis) 반응 연구 ◦ 전기 화학 반응 메커니즘 규명 연구 ◦ 환경/에너지/바이오 시료 |
||
이용안내 | |||
유의사항 |
담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
---|
잠시만 기다려 주세요.