정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
Field Emission Scanning Electron Microscope
GBTP No. | GBREMS-27-0075 |
---|---|
NFEC등록번호 | NFEC-2011-01-139754 |
I-tube등록번호 | - |
보유기관 | 경북대학교 |
연락처 | 053-950-6817 |
대표번호 | - |
모델명 | JSM-6700F | 제작사 | Jeol |
---|---|---|---|
취득일자 | 2006-12-22 | 취득금액 | 312,748,000원 |
표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경 | 활용용도 | 시험 |
장비위치 | |||
장비설명 |
전계방사형 주사전자 현미경(field emission scanning electron microscope)
- 샘플 시료의 금속표면 관찰에 사용할수 있음. - 유기 무기 광물과 화석의 미세입자구조의 관찰에 사용 가능함. - 반도체 소자와 회로망의 품질검사에 용이하게 사용 가능함. - 고분자 및 유기물의 고배율 관찰에 용이함. - 생체시료와 식품시료의 미세구조 관찰에 사용 가능함. |
||
구성 및 기능 |
- magnification: 100x ~ 650000x
- Accelerating Voltage : 0.5kV ~ 30kV - Resolution : 1.0nm(1.5kV) 2.2nm(1kV) |
||
사용/활용예 | |||
이용안내 | |||
유의사항 |
담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
---|
잠시만 기다려 주세요.