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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
원자현미경
ATOMIC FORCE MICROSCOPY
| GBTP No. | GBREMS-18-0129 |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2012-07-166391 |
| I-tube등록번호 | 0804-A-0086 |
| 보유기관 | 영남대학교 산학협력단 |
| 연락처 | 053-810-1844 |
장비정보
| 모델명 | XE-100 | 제작사 | ㈜파크시스템스 |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2008-04-29 | 취득금액 | 87,000,000원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 경산시 대학로 280 (대동) 중앙기기센터분관 영남대학교 중앙기기센터분관 F2층 210
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| 장비설명 | 배율은 광학현미경이 최고 수천 배이고 전자현미경이 최고 수십만 배인데 비해 원자현미경은 최고 수천만 배까지 가능해 하나하나의 원자까지 상세하게 관찰할 수 있다. 텅스텐과 같이 단단하고 안정된 금속의 끝을 뾰족하게 만들어 그 바늘(탐침)을 측정하고자 하는 시료에 접근시켜 주사하는 주사터널링현미경(Scanning Tunneling Microscopy STM)이 최초의 원자현미경이다. 이어 등장한 것이 원자힘현미경(Atomic Force Microscopy AFM)으로 현재 가장 널리 쓰이는 원자현미경이다. STM의 텅스텐 바늘 대신 마이크로머시닝으로 제조된 캔틸레버(cantilever)로 불리는 작은 막대를 쓴다. 그밖에 표면의 마찰력을 재는 LFM 시료의 경도를 재는 FMM 자기력을 재는 MFM 시료의 전기적 특성을 재는 EFM 등 다양한 원자현미경이 있다. | ||
| 구성 및 기능 |
Artifact Free Imaging by Crosstalk Elimination
Two independent closed- loop XY and Z flexure scanners for sample and tip Out of plane motion of less than 2 nm over entire scan range Flat and linear XY scan of up to 100 μm x 100 μm with low residual bow Up to 25 μm Z-scan by high force scanner Accurate height measurements Reduced drift rate of less than 0.5 nm/min Ultimate AFM Resolution by True Non-Contact ModeTM 10 times larger Z-scan bandwidth than a piezotube Less tip wear for prolonged high-quality and high-resolution imaging Minimized sample damage or modification Immunity from parameter-dependent results observed in tapping imaging User Convenience by EZ Design Wide open access to the tip and sample Snap tip exchange & EZ Laser beam alignment Dovetail-lock mount for easy head removal Direct on-axis optics for high resolution optical viewing Motorized optics stage Full Option Compatibility with Modular Platform Full SPM modes and options Open side access for optical coupling Motorized sample stage with Step-and-Scan automated measurements |
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| 사용/활용예 | |||
| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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