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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
주사전자현미경(SEM)
Scanning electron microscopes
| GBTP No. | GBREMS-24-0154 |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2014-12-194872 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 금오공과대학교 |
| 연락처 | 054-478-7390 |
장비정보
| 모델명 | SM-300 | 제작사 | Topcon |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2002-12-31 | 취득금액 | 77,229,430원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 구미시 대학로 61 (양호동) 금오공과대학교 금오공과대학교 F2 246
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| 장비설명 | 주사전자현미경에서는 전자총에서 발생된 전자빔을 집속시켜 시료의 미세영역에 조사하여 투과되거나, 주산된 전자를 전자장을 이용하여 확대시킨 후, 검출기로 감지하여 형광판이나 화면으로 확대된 상을 관찰한다. 또한 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않는다. 주사전자현미경은 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고, 또한 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능하다. | ||
| 구성 및 기능 |
- 최대배율 : 300,000배, 전원사양 : 220v
- 주사전송전자현미경 기능 내장 유무 : 유, 종류 : 주사전자현미경(SEM) - 대물렌즈 초점 거리 : 80mm, 배율 : 20~300000(26단계) - Resolution : 3.5mm, Specimen stage : TXYRZ eccentric stage |
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| 사용/활용예 | 전자총에서 발생된 전자빔을 집속시켜 시료의 미세영역에 주사한 후 화면으로 확대된 상을 관찰하며, 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로애널나이저와 병용하여, 시료 내에 있는 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 수단으로도 널리 사용하고 있다. | ||
| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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