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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
전계방출형주사전자현미경
Scanning electron microscopes
| GBTP No. | - |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2024-12-301339 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 안동대학교 |
| 연락처 | 054-820-7348 |
| 대표번호 | - |
장비정보
| 모델명 | AMBER-GMH | 제작사 | TESCAN |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2024-11-18 | 취득금액 | 499,089,310원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > > | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 안동시 경동로 1375 안동대학교 공동실험실습관 F1층 110호
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| 장비설명 | 1. New generation of Scanning Electron Microscope for rising standards in sample preparation SEM delivers outstanding imaging capabilities as a result of a state-of-the-art electron optics based on an electrostatic-magnetic objective lens and a robust detection system comprised of In-beam detectors. This device achieves field-free ultra-high resolution imaging; the sample is not immersed in a magnetic field when imaged, therefore, high resolution images of both magnetic or non-magnetic samples can be obtained. | ||
| 구성 및 기능 |
1. 주장비
1) Field Emission Scanning Electron Microscope 1 EA 2. 부속장비 1) E-T SE Detector or Chamber SE detector 2) Motorized Retractable YAG 3) Axial detector or In-lens SE detector 4) Multi detector or In-lens EsB detector 5) Beam Deceleration Mode(BDM) or Tandem decel(TD) 6) Active type anti-vibration system 7) Decontaminator or Plasma Cleaner 8) IR camera or Chamber camera 9) Osmium Coater 10) Control panel |
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| 사용/활용예 | |||
| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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