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정보제공 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr)
엑스레이뢴트겐사진검사장치
X-ray Flaw detectors
| GBTP No. | GBREMS-24-0073 |
|---|---|
| NFEC등록번호 | NFEC-2015-10-205685 |
| I-tube등록번호 | - |
| 보유기관 | 금오공과대학교 |
| 연락처 | 054-478-6913 |
장비정보
| 모델명 | XT H 160 | 제작사 | Nikon |
|---|---|---|---|
| 취득일자 | 2015-10-01 | 취득금액 | 332,599,460원 |
| 표준분류 | 광학/전자영상장비 > 방사선발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 방사선발생/측정장비 | 활용용도 | 시험 |
| 장비위치 |
경상북도 구미시 대학로 61 (양호동) 공동실험실습관 금오공과대학교 그린에너지관 F4 403
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| 장비설명 | XRAY/CT장비로써 측정하고자 하는 시료를 X선을 이용하여 투과, 검사하는 장비로 3micron의 높은 분해능을 가지고 있어, 시료의 미세결함 분석 및 측정까지 가능하며 이용분야는 프라스틱, 금속, 생물분야 등 다양하게 이용 가능한 비파괴 검사 장비임. | ||
| 구성 및 기능 |
구성
1. X-ray발생장치, 2. X-ray 촬상 Detector, 3. x-ray차폐용 Cabinet, 4. 냉각용 Chiller, 5. 장비운영 Computer, 6. 결과분석 Computer 성능 1. X-ray Gun Max인가전압 : 160kV 2. X-ray Gun Max전력 : 225W 3. x-ray spot size : 3um |
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| 사용/활용예 |
1. 반도체 Chip에 X-ray를 통과시켜 2차원상에서 비파괴 결함 분석
2. 반도체 Chip에 CT로 촬영하여 3차원 영상분석을 통한 비파괴 상태분석 3. 2차원, 3차원의 생물구조 분석 4. 물질의 공극상태 분석 5. 기계부품의 비파괴 분석을 통한 data추출로 역설계 |
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| 이용안내 | |||
| 유의사항 | |||
이용료안내
| 담당자에게 문의하시기 바랍니다. |
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